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Intuitive, Customized Transient Testing in New, All-in-one Multifunctional Test Generator from EM Test

EM Test now offers the compact NX5, a multifunctional test generator that meets international and product-specific transient and power fail requirements, including EFT/burst to 5.5 kV, surge to 5.0 kV and power fail testing.

An intuitive 7" touch screen panel is the gateway to customized sequences and testing. Defined keys indicated by LED, such as start, stop and break, allow the user to run the individual configured tests quickly and accurately. Any pre-programmed standard tests can be implemented. All test parameters are displayed on-screen and the unit can also be operated remotely using the built-in Ethernet, USB or optical interface.

The standalone NX5 includes everything needed to conduct fully compliant tests as well as CE Marking for single-phase EUTs with an output supply of 300V/16A. Using an automatically controlled external coupling/decoupling network with a rated current up to 200 A, this compact generator system test three-phase EUTs for added versatility.

The NX5's advanced safety features make it ideal for use in industrial, medical, residential, telecom, components, broadcast and renewable energy applications. The unit, which conforms to IEC/EN 61010, includes real-time power monitoring of the EUT and a secure Ethernet or galvanic insulated OptoLink connection for reliable, safe testing.

For convenience, users can choose tests from an integrated standards library; customize their own test as well as import and export documents, photos and data easily. A quick start test option is available where parameters can be changed on-line while the individual EUT is still maintained.

The NX5 features fail inputs that allow users to control an ongoing test sequence based on the state of the EUT as well as monitoring outputs (BNC) that offer easy signal verification and measurements.

This new compact generator is the first to recognize connected EUT power configurations and selects only couplings to real existing lines. Non-existing lines are disabled from the menu settings.

A quad core ARM-Cortex A9 processor provides exceptional power optimization coupled with high performance, and the included iec.control software, supported by Windows XP, Windows Vista and Windows 7, 8 and 10 is used for control and documentation.

EM Test supplies a wide range of accessories for nearly all tests and applications.

Technical Specifications

• Smallest compact generator with 7" touch screen

• Intelligent, customized testing in all-in-one standalone unit

• Burst 5.5 kV, surge 5.0 kV and power fail

• Built-in single phase coupler 300V/16A

• Quad core ARM-Cortex A9 processor

• Rated current up to 200 A

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Four-quadrant, Bi-polar Operation in New Voltage Drop Simulators from EM Test

EM Test now offers the VDS 200Q Series, a four-quadrant voltage drop simulator that can source and sink current using a programmed voltage in both positive and negative polarities. The amplifier generates dips and drops, short interruptions and voltage variations to simulate a wide range of phenomena occurring on a vehicle wiring harness.

With unlimited operation from -15 V to +60 V, this powerful DC voltage source simulates a wide number of battery supply waveforms used by manufacturers in the automotive industry as well as for international quality standards. Uses include military, avionics and automotive testing environments.

The VDS 200Q Series are fast bipolar amplifiers which operate across all four quadrants that sink as well as source current. This allows the new simulators to drive capacitive loads and absorb energy feedback from the DUT up to the nominal current.

A very low source impedance of less than 10 mΩ and a high bandwidth of 150 kHz (full signal) enables these new sources to support low voltage drop, class-leading inrush current and extremely fast recovery.

The unique QuickStart feature allows parameters to be adjusted during test to evaluate the DUT's susceptibility level. And while many manufacturer-specific waveforms, such as pulse 2b (per ISO 7637-2) and pulse 4 (per ISO 16750-2), are pre-programmed, adding an external signal generator allows the VDS 200Q to generate even more complex waveforms.

Test routines are quickly programmed using the intuitive front panel with menus and function keys. The optional iso.control software automatically configures according to the connected EM TEST generators and provides an easy to use interface for accurate control and reporting functions. The EM TEST standards library is continually updated with the most current international and automotive manufacturers' standards requirements.

Technical Specifications

• Used for test according to Audi, BMW, ISO, Mercedes-Benz, SAE, VW and more

• Output range of -15 V to +60 V

• Covers supply voltage categories 48 V, 24 V, 12 V

• VDS 200Q25: output current 25 A; peak current 75 A

• VDS 200Q50: output current 50 A; peak current 150 A

• VDS 200Q100: output current 100 A; peak current 300 A

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Erfolgreicher Messeauftritt bei der IEEE Symposium in Denver

EM TEST nahm auch dieses Jahr erneut an der IEEE, dem EMV Symposium für elektromagnetische Verträglichkeit teil. Dies fand diesmal in Denver statt. EM TEST zeigte die neusten Produkte und der Messestand war Treffpunkt für Kunden, Geschäftsfreunde und Fachbesucher. Es gab Gespräche mit technischen Experten aus USA, Europa und Asien über aktuelle Projekte.

Themen, wie leitungsgebundene Immunitätsprüfungen für Automotive, Hybrid- und Elektrofahrzeuge, "grüne" Energie sowie die Rückspeisung in das öffentliche Netz kamen zur Sprache. Besonderes Interesse fanden Harmonics- und Flickerprüfungen, leitungsgebundene Immunitätsprüfungen für IEC & ANSI und die einzigartige Testlösung für Power Simulation im Bereich MIL & Avionics mit dem Produkt NetWave.

Das Symposium war eine großartige Gelegenheit, den neuen Sales Manager für Nord-Amerika vorzustellen: Dan Odum, Vorsitzender des diesjährigen IEEE EMC Symposium in Denver. Dan Odum blickt auf fast 30 Jahre Erfahrung im EMC-Bereich zurück und wird das kontinuierliche Wachstum von EM TEST in Nord-Amerika vorantreiben.

EM TEST blickt auf ein erfolgreiches IEEE Symposium 2013 in Denver zurück: mit einer großen Nachfrage an den neusten Produkten und Services - the benchmark for EMC.

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Erfolgreicher Messeauftritt bei der EMV 2013 in Stuttgart

Die EMV ist Europas führende Messe für Elektromagnetische Verträglichkeit - die ideale Plattform für den Austausch zwischen Anwendern aller Branchen der Elektronikindustrie und den Anbietern von EMV-Lösungen und -Dienstleistungen, sowie Experten aus der Wissenschaft.

Der offen gestaltete EM TEST-Messestand war wie in jedem Jahr beliebter Treffpunkt für Kunden, Geschäftsfreunde und Fachbesucher.

Besondere Beachtung fanden natürlich auch die ausgestellten EM TEST- Produkte, wie z.B. der NetWave -  Die programmierbaren Hochleistungsquellen der NetWave-Serie erfüllen die Anforderungen gemäß IEC/EN 61000-4-13 /-14 und -28. Auch als DC-Quelle deckt der NetWave die Anforderungen gemäß IEC/EN 61000-4-17 und -29 für Spannungseinbrüche und Unterbrechungen auf DC-Versorgungsleitungen ab. Mit ihren hohen Ausgangsleistungen bei geringer Verzerrung und ihrer hohen Stabilität garantiert der NetWave selbst unter dynamischen Lastveränderungen, normenkonforme Messungen für Oberschwingungs- und Flickerprüfungen gemäß IEC/EN 61000-3-2 /-3 /-11 /-12 und JIS C 61000-3-2. Auch für Avionics-Prüfanforderungen gemäß DO-160, MIL-STD-704, Airbus und Boeing bietet der NetWave die ideale Lösung. 

Insgesamt freute sich EM TEST abermals über das große Interesse an den aktuellen EMV-Produkten, Seminaren und Dienstleistungen des Unternehmens während der EMV 2013 in Stuttgart.

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